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AS 센터

검 교정

측정 원리

광산란(Light-scattering method) 방식을 채택한 Particle counter의
내부 구조를 도면화한 것으로 Laser가 Flow-cell 내부에서 흐르는 시료 중의
Particle을 조사하여 발생된 산란광을 Photo diode로 계측하는 원리이다.
Particle에 의해 발생한 산란광을 전기 신호로 변환 · 계측

신호 분석법

측정원리에 대한 이해와 같은 원리를 이용하여 Particle counter에 단 분산 시험 입자인 PSL로 신호분석을 실시한다.
  • PSL에 의해 발생한 전기 신호를 분석시 다음 그림과 같은 파형이 측정되며 이 그래프를 Histogram이라 한다.
  • 단 분산 시험입자인 PSL은 같은 크기의 입자 위주로 존재하므로 해당 입자의 전압치를 쉽고 정확하게 분석할 수 있다.
  • 아래 Histogram상에서는 Y축이 검출된 빈도수, X축이 검출된 입자의 신호 강도를 나타낸다.
  • 그러므로 같은 크기의 입자 위주로 반복 검출될 경우 아래 Histogram과 같은 파형을 측정할 수 있다.
전기신호→파고분석기(Pulse height analyzer)로 변환분석.
PSL에 의해 발생한 전기신호의 총수를 2등분하는 전압치를 구하고, 그 전압치를 해당 PSL의 대표 전압치로 함.
입경 설정 전압치란?
PSL(Polystyrene Latex)입자에 해당하는 대표 전압치는 Particle counter에서 측정한 분포의 중앙값
→입자검출 신호 중심 값을 PSL입자 대표 전압치 = Pulse height voltage로 함
→Pulse height voltage x Contversion = Threshold voltager(입경 설정 전압치)
PSL 이란
같은 모양과 크기의 입자들로 이루어진 단 분산 시험 입자, 교정 시 각각 해당되는 입경의 기준으로 사용한다.

계수 효율

ISO 21501-4(JIS B 9921)에 의한 계수효율시험
  • - 최소 측정 가능 입경과 같은 크기의 입경을 시험입자로 하고, 최소 측정 가능 입경으로 측정한 경우의 계수효율이 (50±20%) 이내
  • - 최소 측정 가능 입경의 1.5~2배의 입경을 시험입자로 하고, 최소 측정 가능 입경으로 측정한 경우의 계수효율이 (100±10%) 이내