본문 바로가기 주메뉴 바로가기

반도체 / 소재 / 바이오 / LAB

OFF LINE MEASURING SYSTEM

대기압 상태에서 액상 파티클(20nm 이상)을 측정하고자 할 때, 샘플(케미컬, DIW.. etc)을 세정 바틀 또는 비커에 샘플링하여 측정하는 방식
주로 개발 또는 양산 제품 내 파티클의 수준을 파악하거나, 고객사에 제출하는 용도로 활용된다.

IN LINE MONITORING SYSTEM

약액 공급장치에서 최종 제품단에 도달하기까지 중요 포인트에 계측기 샘플링 라인을 설치하여 실시간으로 파티클(20nm 이상)을 실측해 공급 품질의 변곡점을 모니터링하는 방식을 말한다.
소재업체 또는 반도체 소재 공급계통에서 투입 소재 및 공급계통 부품 오염 등에서 발생할 수 있는 사고로부터 양산 제품을 보호하고 품질사고를 예방하는 목적으로 활용된다.
소재 케미컬 생산 분야
반도체 케미컬 공급 분야